中山可靠性测试工程师

通过加速寿命试验与失效分析验证半导体、汽车电子等硬件产品的长期性能稳定性，运用JEDEC/AEC-Q标准与FIB/SEM等工具定位缺陷根因，为产品量产决策、质量改进及成本控制提供关键数据支撑。